MARC details
| 000 -LEADER |
| campo de control de longitud fija |
04132nam a22005535i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
| campo de control |
978-0-85729-310-7 |
| 003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL |
| campo de control |
DE-He213 |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
| campo de control |
20260521092039.0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL |
| campo de control de longitud fija |
cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
| campo de control de longitud fija |
110326s2011 xxk| s |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9780857293107 |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
| Número Internacional Estándar del Libro |
99780857293107 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES |
| Número estándar o código |
10.1007/978-0-85729-310-7 |
| Fuente del número o código |
doi |
| 082 04 - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY |
| Número de clasificación |
658.56 |
| Información de edición |
23 |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA |
| Nombre de persona |
Tan, Cher Ming. |
| Término indicativo de función/relación |
author. |
| 245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO |
| Título |
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections |
| Medio |
[electronic resource] / |
| Mención de responsabilidad, etc. |
by Cher Ming Tan, Wei Li, Zhenghao Gan, Yuejin Hou. |
| 250 ## - MENCION DE EDICION |
| Mención de edición |
1. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT |
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright |
London : |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante |
Springer London, |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright |
2011. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
| Extensión |
VIII, 152 p. |
| Otros detalles físicos |
online resource. |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO |
| Término de tipo de contenido |
text |
| Código de tipo de contenido |
txt |
| Fuente |
rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO |
| Nombre/término del tipo de medio |
computer |
| Código del tipo de medio |
c |
| Fuente |
rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE |
| Nombre/término del tipo de soporte |
online resource |
| Código del tipo de soporte |
cr |
| Fuente |
rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL |
| Tipo de archivo |
text file |
| Formato de codificación |
PDF |
| Fuente |
rda |
| 490 1# - MENCIÓN DE SERIE |
| Mención de serie |
Springer Series in Reliability Engineering, |
| Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas |
1614-7839 |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
| Nota de contenido con formato |
1. Introduction -- 2. Development of Physics-based Modeling for ULSI Interconnections Failure Mechanisms: Electromigration and Stress Induced Voiding -- 3. Introduction and General Theory of Finite Element Method -- 4. Finite Element Method for Electromigration Study -- 5. Finite Element Method for Stress Induced Voiding -- 6. Finite Element Method for Dielectric Reliability. |
| 520 ## - RESUMEN, ETC. |
| Sumario, etc. |
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections provides a detailed description of the application of finite element methods (FEMs) to the study of ULSI interconnect reliability. Over the past two decades the application of FEMs has become widespread and continues to lead to a much better understanding of reliability physics. To help readers cope with the increasing sophistication of FEMs' applications to interconnect reliability, Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections will: introduce the principle of FEMs; review numerical modeling of ULSI interconnect reliability; describe the physical mechanism of ULSI interconnect reliability encountered in the electronics industry; and discuss in detail the use of FEMs to understand and improve ULSI interconnect reliability from both the physical and practical perspective, incorporating the Monte Carlo method. A full-scale review of the numerical modeling methodology used in the study of interconnect reliability highlights useful and noteworthy techniques that have been developed recently. Many illustrations are used throughout the book to improve the reader's understanding of the methodology and its verification. Actual experimental results and micrographs on ULSI interconnects are also included. Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections is a good reference for researchers who are working on interconnect reliability modeling, as well as for those who want to know more about FEMs for reliability applications. It gives readers a thorough understanding of the applications of FEM to reliability modeling and an appreciation of the strengths and weaknesses of various numerical models for interconnect reliability. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
ENGINEERING. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
DIFFERENTIAL EQUATIONS, PARTIAL. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
SYSTEM SAFETY. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
ELECTRONICS. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
OPTICAL MATERIALS. |
| 650 14 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
ENGINEERING. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
QUALITY CONTROL, RELIABILITY, SAFETY AND RISK. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
COMPUTATIONAL INTELLIGENCE. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
ELECTRONICS AND MICROELECTRONICS, INSTRUMENTATION. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
OPTICAL AND ELECTRONIC MATERIALS. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
PARTIAL DIFFERENTIAL EQUATIONS. |
| 700 1# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE PERSONAL |
| Nombre de persona |
Li, Wei. |
| Término indicativo de función/relación |
author. |
| 700 1# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE PERSONAL |
| Nombre de persona |
Gan, Zhenghao. |
| Término indicativo de función/relación |
author. |
| 700 1# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE PERSONAL |
| Nombre de persona |
Hou, Yuejin. |
| Término indicativo de función/relación |
author. |
| 710 2# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA |
| Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada |
SpringerLink (Online service) |
| 773 0# - ASIENTO DE ITEM FUENTE |
| Título |
Springer eBooks |
| 776 08 - ENTRADA DE FORMULARIO FÍSICO ADICIONAL |
| Información de relación |
Printed edition: |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9780857293091 |
| 830 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE SERIE-TÍTULO UNIFORME |
| Título uniforme |
Springer Series in Reliability Engineering, |
| Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas |
1614-7839 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
| Identificador Uniforme de Recurso |
<a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-310-7">http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-310-7</a> |
| Nota pública |
Ver el texto completo en las instalaciones del CICY |
| 912 ## - |
| -- |
ZDB-2-ENG |
| 942 ## - ELEMENTOS DE ENTRADA SECUNDARIOS (KOHA) |
| Fuente de la clasificación o esquema de estantería |
Clasificación Decimal Dewey |
| Tipo de ítem Koha |
ER |