MARC details
| 000 -LEADER |
| campo de control de longitud fija |
03964nam a22005055i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
| campo de control |
978-0-387-98182-6 |
| 003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL |
| campo de control |
DE-He213 |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
| campo de control |
20260521092024.0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL |
| campo de control de longitud fija |
cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
| campo de control de longitud fija |
100715s2010 xxu| s |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9780387981826 |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
| Número Internacional Estándar del Libro |
99780387981826 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES |
| Número estándar o código |
10.1007/978-0-387-98182-6 |
| Fuente del número o código |
doi |
| 082 04 - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY |
| Número de clasificación |
620.11 |
| Información de edición |
23 |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA |
| Nombre de persona |
Ayache, Jeanne. |
| Término indicativo de función/relación |
author. |
| 245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO |
| Título |
Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy |
| Medio |
[electronic resource] : |
| Resto del título |
Methodology / |
| Mención de responsabilidad, etc. |
by Jeanne Ayache, Luc Beaunier, Jacqueline Boumendil, Gabrielle Ehret, Danièle Laub. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT |
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright |
New York, NY : |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante |
Springer New York : |
| -- |
Imprint: Springer, |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright |
2010. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
| Extensión |
XXIII, 250 p. 114 illus. |
| Otros detalles físicos |
online resource. |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO |
| Término de tipo de contenido |
text |
| Código de tipo de contenido |
txt |
| Fuente |
rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO |
| Nombre/término del tipo de medio |
computer |
| Código del tipo de medio |
c |
| Fuente |
rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE |
| Nombre/término del tipo de soporte |
online resource |
| Código del tipo de soporte |
cr |
| Fuente |
rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL |
| Tipo de archivo |
text file |
| Formato de codificación |
PDF |
| Fuente |
rda |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
| Nota de contenido con formato |
Methodology: General Introduction -- to Materials -- The Different Observation Modes in Electron Microscopy (SEM, TEM, STEM) -- Materials Problems and Approaches for TEM and TEM/STEM Analyses -- Physical and Chemical Mechanisms of Preparation Techniques -- Artifacts in Transmission Electron Microscopy -- Selection of Preparation Techniques Based on Material Problems and TEM Analyses -- Comparisons of Techniques -- Conclusion: What Is a Good Sample?. |
| 520 ## - RESUMEN, ETC. |
| Sumario, etc. |
This two-volume Handbook is a comprehensive and authoritative guide to sample preparation for the transmission electron microscope. This first volume covers general theoretical and practical aspects of the methodologies used for TEM analysis and observation of any sample. The information will help you to choose the best preparative technique for your application taking into account material types, structures, and their properties. Physical properties, material classification, and microstructures are considered together with a thorough description of the physics and chemistry of sample preparation and the main artifacts brought about by mechanical, physical and chemical methods, principles which are also applicable to sample preparation for the SEM, AFM etc.. Also included is a discussion of how to combine techniques for complex sample analysis and to obtain a TEM thin slice. Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy: Methodology will guide you through the most current techniques for successful sample preparation in all fields from materials science to biology. Key Features of the Handbook: Combines all of the latest techniques for the preparation of mineral to biological samples Compares techniques in terms of their application areas, limitations, artifacts, and types of analysis (macroscopic, atomic, or molecular level) Describes physical characteristics, chemistry, structure/texture, and orientation properties of materials in relation to the most appropriate type of TEM analysis Links to a complementary interactive database website which is available to scientists worldwide* Written by authors with 100 years of combined experience in electron microscopy http://temsamprep.in2p3.fr/ |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
MINERALOGY. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
MICROSCOPY. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
NANOTECHNOLOGY. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
SURFACES (PHYSICS). |
| 650 14 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
MATERIALS SCIENCE. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
CHARACTERIZATION AND EVALUATION OF MATERIALS. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
BIOLOGICAL MICROSCOPY. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
MINERALOGY. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
NANOTECHNOLOGY. |
| 700 1# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE PERSONAL |
| Nombre de persona |
Beaunier, Luc. |
| Término indicativo de función/relación |
author. |
| 700 1# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE PERSONAL |
| Nombre de persona |
Boumendil, Jacqueline. |
| Término indicativo de función/relación |
author. |
| 700 1# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE PERSONAL |
| Nombre de persona |
Ehret, Gabrielle. |
| Término indicativo de función/relación |
author. |
| 700 1# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE PERSONAL |
| Nombre de persona |
Laub, Danièle. |
| Término indicativo de función/relación |
author. |
| 710 2# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA |
| Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada |
SpringerLink (Online service) |
| 773 0# - ASIENTO DE ITEM FUENTE |
| Título |
Springer eBooks |
| 776 08 - ENTRADA DE FORMULARIO FÍSICO ADICIONAL |
| Información de relación |
Printed edition: |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9780387981819 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
| Identificador Uniforme de Recurso |
<a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-98182-6">http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-98182-6</a> |
| Nota pública |
Ver el texto completo en las instalaciones del CICY |
| 912 ## - |
| -- |
ZDB-2-CMS |
| 942 ## - ELEMENTOS DE ENTRADA SECUNDARIOS (KOHA) |
| Fuente de la clasificación o esquema de estantería |
Clasificación Decimal Dewey |
| Tipo de ítem Koha |
ER |