MARC details
| 000 -LEADER |
|---|
| campo de control de longitud fija |
03780nam a22005175i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
978-0-387-74747-7 |
| 003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
DE-He213 |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
|---|
| campo de control |
20260521091950.0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
100301s2008 xxu| s |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
9780387747477 |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
99780387747477 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES |
|---|
| Número estándar o código |
10.1007/978-0-387-74747-7 |
| Fuente del número o código |
doi |
| 040 ## - FUENTE DE CATALOGACIÓN |
|---|
| Centro/agencia transcriptor |
CICY |
| 082 04 - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY |
|---|
| Número de clasificación |
621.3815 |
| Información de edición |
23 |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Tehranipoor, Mohammad. |
| Término indicativo de función/relación |
editor. |
| 245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO |
|---|
| Título |
Emerging Nanotechnologies |
| Medio |
[recurso electrónico] : |
| Resto del título |
Test, Defect Tolerance, and Reliability / |
| Mención de responsabilidad, etc. |
edited by Mohammad Tehranipoor. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT |
|---|
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright |
Boston, MA : |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante |
Springer US, |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright |
2008. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
|---|
| Otros detalles físicos |
online resource. |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO |
|---|
| Término de tipo de contenido |
text |
| Código de tipo de contenido |
txt |
| Fuente |
rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO |
|---|
| Nombre/término del tipo de medio |
computer |
| Código del tipo de medio |
c |
| Fuente |
rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE |
|---|
| Nombre/término del tipo de soporte |
recurso en línea |
| Código del tipo de soporte |
cr |
| Fuente |
rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL |
|---|
| Tipo de archivo |
text file |
| Formato de codificación |
PDF |
| Fuente |
rda |
| 490 1# - MENCIÓN DE SERIE |
|---|
| Mención de serie |
Frontiers in Electronic Testing, |
| Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas |
0929-1296 ; |
| Designación de volumen o secuencia |
37 |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
|---|
| Nota de contenido con formato |
Test and Defect Tolerance for Crossbar-Based Architectures -- Defect-Tolerant Logic with Nanoscale Crossbar Circuits -- Built-in Self-Test and Defect Tolerance in Molecular Electronics-Based Nanofabrics -- Test and Defect Tolerance for Reconfigurable Nanoscale Devices -- A Built-In Self-Test and Diagnosis Strategy for Chemically-Assembled Electronic Nanotechnology -- Defect Tolerance in Crossbar Array Nano-Architectures -- Test and Defect Tolerance for QCA Circuits -- Reversible and Testable Circuits for Molecular QCA Design -- Cellular Array-Based Delay-Insensitive Asynchronous Circuits Design and Test for Nanocomputing Systems -- QCA Circuits for Robust Coplanar Crossing -- Reliability and Defect Tolerance in Metallic Quantum-Dot Cellular Automata -- Testing Microfluidic Biochips -- Test Planning and Test Resource Optimization for Droplet-Based Microfluidic Systems -- Testing and Diagnosis of Realistic Defects in Digital Microfluidic Biochips -- Reliability for Nanotechnology Devices -- Designing Nanoscale Logic Circuits Based on Principles of Markov Random Fields -- Towards Nanoelectronics Processor Architectures -- Design and Analysis of Fault-Tolerant Molecular Computing Systems. |
| 520 ## - RESUMEN, ETC. |
|---|
| Sumario, etc. |
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes. Each of these technologies offers various advantages and disadvantages. Some suffer from high power, some work in very low temperatures and some others need indeterministic bottom-up assembly. These emerging technologies are not considered as a direct replacement for CMOS technology and may require a completely new architecture to achieve their functionality. Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability brings all of these issues together in one place for readers and researchers who are interested in this rapidly changing field. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
ENGINEERING. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
SYSTEM SAFETY. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
COMPUTER ENGINEERING. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
ELECTRONICS. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
SYSTEMS ENGINEERING. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
NANOTECHNOLOGY. |
| 650 14 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
ENGINEERING. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
CIRCUITS AND SYSTEMS. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
ELECTRONICS AND MICROELECTRONICS, INSTRUMENTATION. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
NANOTECHNOLOGY. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
QUALITY CONTROL, RELIABILITY, SAFETY AND RISK. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
ELECTRICAL ENGINEERING. |
| 710 2# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA |
|---|
| Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada |
SpringerLink (Online service) |
| 773 0# - ASIENTO DE ITEM FUENTE |
|---|
| Título |
Springer eBooks |
| 776 08 - ENTRADA DE FORMULARIO FÍSICO ADICIONAL |
|---|
| Información de relación |
Printed edition: |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9780387747460 |
| 830 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE SERIE-TÍTULO UNIFORME |
|---|
| Título uniforme |
Frontiers in Electronic Testing, |
| Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas |
0929-1296 ; |
| Designación de volumen o secuencia |
37 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
|---|
| Identificador Uniforme de Recurso |
<a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7">http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7</a> |
| Nota pública |
Ver el texto completo en las instalaciones del CICY |
| 942 ## - ELEMENTOS DE ENTRADA SECUNDARIOS (KOHA) |
|---|
| Fuente de la clasificación o esquema de estantería |
Clasificación Decimal Dewey |
| Tipo de ítem Koha |
ER |
