MARC details
| 000 -LEADER |
| campo de control de longitud fija |
03094nam a22004815i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
| campo de control |
978-0-387-35659-4 |
| 003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL |
| campo de control |
DE-He213 |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
| campo de control |
20260521091910.0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL |
| campo de control de longitud fija |
cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
| campo de control de longitud fija |
100508s2007 xxu| s |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9780387356594 |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
| Número Internacional Estándar del Libro |
99780387356594 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES |
| Número estándar o código |
10.1007/978-0-387-35659-4 |
| Fuente del número o código |
doi |
| 040 ## - FUENTE DE CATALOGACIÓN |
| Centro/agencia transcriptor |
CICY |
| 082 04 - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY |
| Número de clasificación |
530.12 |
| Información de edición |
23 |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA |
| Nombre de persona |
Maradudin, Alexei A. |
| Término indicativo de función/relación |
editor. |
| 245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO |
| Título |
Light Scattering and Nanoscale Surface Roughness |
| Medio |
[recurso electrónico] / |
| Mención de responsabilidad, etc. |
edited by Alexei A. Maradudin. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT |
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright |
Boston, MA : |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante |
Springer US, |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright |
2007. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
| Extensión |
XXIII, 496 p. 197 illus. |
| Otros detalles físicos |
online resource. |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO |
| Término de tipo de contenido |
text |
| Código de tipo de contenido |
txt |
| Fuente |
rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO |
| Nombre/término del tipo de medio |
computer |
| Código del tipo de medio |
c |
| Fuente |
rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE |
| Nombre/término del tipo de soporte |
recurso en línea |
| Código del tipo de soporte |
cr |
| Fuente |
rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL |
| Tipo de archivo |
text file |
| Formato de codificación |
PDF |
| Fuente |
rda |
| 490 1# - MENCIÓN DE SERIE |
| Mención de serie |
Nanostructure Science and Technology, |
| Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas |
1571-5744 |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
| Nota de contenido con formato |
Characterization of Surface Roughness -- The Kirchhoff and Related Approximations -- Scattering and the Spatial Frequency Representation -- Rayleigh Hypothesis -- Small-Amplitude Perturbation Theory for One-Dimensionally Rough Surfaces -- Small-Amplitude Perturbation Theory for Two-Dimensional Surfaces -- Computer Simulations of Rough Surface Scattering -- Overview of Rough Surface Scattering -- Experimental Studies of Scattering from Weakly Rough Metal Surfaces -- Measuring Interfacial Roughness by Polarized Optical Scattering -- Scattering of Electromagnetic Waves from Nanostructured, Self-Affine Fractal Surfaces: Near-Field Enhancements -- Light Scattering by Particles on Substrates. Theory and Experiments -- Multiple Scattering of Waves by Random Distribution of Particles for Applications in Light Scattering by Metal Nanoparticles -- Multiple-Scattering Effects in Angular Intensity Correlation Functions -- Speckle Pattern in the Near Field -- Inverse Problems in Optical Scattering -- The Design of Randomly Rough Surfaces That Scatter Waves in a Specified Manner. |
| 520 ## - RESUMEN, ETC. |
| Sumario, etc. |
This volume presents up-to-date surveys of many aspects of rough surface scattering that are relevant to the scattering of electromagnetic waves from surfaces with nanoscale roughness. Both the direct and inverse scattering problems are considered, perturbative and computational approaches to their solution are described, and experimental methods and results are discussed. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
PHYSICS. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
QUANTUM THEORY. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
MATERIALS. |
| 650 14 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
PHYSICS. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
QUANTUM PHYSICS. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
OPTICS AND ELECTRODYNAMICS. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
CONTINUUM MECHANICS AND MECHANICS OF MATERIALS. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
SOLID STATE PHYSICS. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
SPECTROSCOPY AND MICROSCOPY. |
| 710 2# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA |
| Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada |
SpringerLink (Online service) |
| 773 0# - ASIENTO DE ITEM FUENTE |
| Título |
Springer eBooks |
| 776 08 - ENTRADA DE FORMULARIO FÍSICO ADICIONAL |
| Información de relación |
Printed edition: |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9780387255804 |
| 830 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE SERIE-TÍTULO UNIFORME |
| Título uniforme |
Nanostructure Science and Technology, |
| Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas |
1571-5744 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
| Identificador Uniforme de Recurso |
<a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-35659-4">http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-35659-4</a> |
| Nota pública |
Ver el texto completo en las instalaciones del CICY |
| 942 ## - ELEMENTOS DE ENTRADA SECUNDARIOS (KOHA) |
| Fuente de la clasificación o esquema de estantería |
Clasificación Decimal Dewey |
| Tipo de ítem Koha |
ER |